CEM3000系列國產掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

不同于立式電鏡，CEM3000系列國產掃描電子顯微鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該系列臺式電鏡也可以進入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內大顯身手。即便在一些常規電鏡難以耐受的工作環境中，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術，展現出色的性能。

核心優勢

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺式設計，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動實驗室），節省實驗室空間。

（2）支持快速移機，一臺設備滿足多場景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級分辨率

（1）空間分辨率優于4nm（SE），支持高達200,000倍放大，精準捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

（2）高襯度成像系統，快速掃描也能清晰呈現微弱信號，滿足材料科學、生命科學等領域的需求。

3、抗振防磁，穩定無懼挑戰

（1）特殊隔振設計（CEM3000B搭載復合抗振系統），消除環境振動與電磁干擾，保障高倍成像質量。

（2）適用于工業車間、車載實驗室等復雜環境，穩定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時間。

（2）自動對焦、消像散、圖像增強功能，一鍵生成高質量圖片，降低操作門檻。

5、靈活拓展，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統（5~100Pa），兼容導電/非導電樣品觀測。

（2）CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統計、孔隙率測量等定制功能，滿足多領域分析需求。

應用場景

材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結構分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業質檢：錫球顆粒焊接質量、精密器件表面粗糙度檢測。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩定。

部分技術指標

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